2

Burn-in effect on yield

Année:
2000
Langue:
english
Fichier:
PDF, 194 KB
english, 2000
8

Extensions of the kaplan-meier estimator

Année:
1995
Langue:
english
Fichier:
PDF, 338 KB
english, 1995
15

A nonparametric Bayes approach to decide system burn-in time

Année:
1997
Langue:
english
Fichier:
PDF, 132 KB
english, 1997
20

Use of the dirichlet process for reliability analysis

Année:
1994
Langue:
english
Fichier:
PDF, 318 KB
english, 1994
22

Transient current through a single germanium quantum dot

Année:
2009
Langue:
english
Fichier:
PDF, 718 KB
english, 2009
37

A flexible portable proton exchange membrane fuel cell

Année:
2012
Langue:
english
Fichier:
PDF, 1.80 MB
english, 2012
46

Wide Dynamic Range CMOS Potentiostat for Amperometric Chemical Sensor

Année:
2010
Langue:
english
Fichier:
PDF, 603 KB
english, 2010